新機(jī)來(lái)襲！德國(guó)非接觸方塊電阻測(cè)試儀樣機(jī)預(yù)約體驗(yàn)

EddyCus® lab 2020 系列方塊電阻測(cè)試儀樣機(jī)是一款臺(tái)式實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，它采用渦流技術(shù)，替代四探針?lè)桨?，用于非接觸式單點(diǎn)測(cè)量導(dǎo)電薄膜的金屬層厚度和方塊電阻。它能夠快速、精確地測(cè)量zui大200 x 200 mm2（8 x 8英寸）樣品，并支持多種材料，包括薄金屬層、晶圓和導(dǎo)電聚合物等材料。

非接觸式單點(diǎn)方塊電阻測(cè)試儀提供了一種現(xiàn)代、無(wú)接觸的傳統(tǒng)四點(diǎn)探頭（4PP）及其他接觸式測(cè)量方法的替代方案。無(wú)需物理接觸，無(wú)需表面準(zhǔn)備，且不受封裝或表面粗糙度的影響。

lab 2020 系列方塊電阻測(cè)試儀能夠測(cè)量多個(gè)參數(shù)。方塊電阻與金屬層厚度、發(fā)射率和電阻率相關(guān)。只要材料性質(zhì)明確，所有這些參數(shù)都可以高精度測(cè)量。

測(cè)量參數(shù)：

• 金屬厚度(nm, um)

• 方塊電阻(Ohm/sq)

• 發(fā)射率

• 電導(dǎo)率/電阻率(mOhm·cm)

• 電各向異性(%)

• 重量 (g/m’) 和烘干狀態(tài) (%)

• 滲透性(H/m) Beta

四探針傳統(tǒng)方法對(duì)比

對(duì)比維度	四探針測(cè)試	非接觸電渦流測(cè)試（EddyCus）
方案
接觸方式	觸點(diǎn)式測(cè)量，觸點(diǎn)質(zhì)量影響結(jié)果	非接觸式，實(shí)時(shí)無(wú)損
測(cè)量范圍	單點(diǎn)測(cè)量，部分支持Mapping成像	高分辨率Mapping成像，支持在線過(guò)程控制
對(duì)樣品影響	可能損壞敏感面，無(wú)法測(cè)量封裝后薄膜	對(duì)敏感膜無(wú)傷害或偽影，可測(cè)封裝膜層和多層膜系統(tǒng)
測(cè)量類型	僅支持單點(diǎn)方塊電阻測(cè)試	支持多種膜層與系統(tǒng)測(cè)量
探頭耐久性	探頭隨時(shí)間磨損	無(wú)磨損，使用壽命長(zhǎng)
適用場(chǎng)景	適用于部分簡(jiǎn)單薄膜測(cè)量	適用于觸摸型敏感層及多層膜系統(tǒng)等精密場(chǎng)景

Mapping圖

應(yīng)用場(chǎng)景

導(dǎo)電薄膜

觸摸面板

導(dǎo)電紡織品

智能玻璃

電池電極

各類晶圓等

樣機(jī)設(shè)備適配參數(shù)

設(shè)備控制和軟件

上海昊量光電是德國(guó)EddyCus® lab 2020 系列的中國(guó)代理商，新引進(jìn)的方塊電阻測(cè)試儀樣機(jī)現(xiàn)已開(kāi)放預(yù)約！誠(chéng)邀各領(lǐng)域研發(fā)、質(zhì)檢與生產(chǎn)單位參與體驗(yàn)，親身體驗(yàn)非接觸式測(cè)量的精準(zhǔn)與高效。
體驗(yàn)時(shí)間：即日起至2026年2月10日

體驗(yàn)形式：寄樣測(cè)試（上門測(cè)試限部分地區(qū)）

更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電

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